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J-GLOBAL ID:202202277839710705   整理番号:22A1148129

欠陥模擬構造における部分放電発生領域の評価

Estimation of Partial Discharge Area in Simulation Defect Structure
著者 (10件):
資料名:
巻: 2022  ページ: ROMBUNNO.2-001  発行年: 2022年03月01日 
JST資料番号: S0653B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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・欠陥を含む電極/樹脂/電極系における長期課電による樹脂劣化進展を評価する際には,試験電圧や結果構造の違いによって変化する欠陥内の部分放電発生箇所を推定することが重要。
・本稿では,ボイド欠陥を模擬した球電極/樹脂/空隙/樹脂/平板電極系において,平板電極を透明電極化することで,課電試験中の部分放電由来の発光を可視化し,欠陥内での部分放電発生領域の範囲を測定。
・さらに,有限要素法を利用した同試料構造で空隙部の分担電圧の推定結果から,バッシェン則に基づき放電領域を推定し,撮影結果から求まる放電範囲と比較。
・部分放電開始電圧付近では推定値よりもやや広い範囲の試験電圧で放電が起きており,部分放電開始電圧の1.4倍以上の試験電圧では,放電領域はほぼ推定通りであることを確認。
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分類 (3件):
分類
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液体・固体中の放電  ,  誘電体一般  ,  絶縁材料 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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