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J-GLOBAL ID：202202277854914298   整理番号：22A0809072

L線を用いた遷移金属のElectronプローブ微量分析:自己吸収の効果【JST・京大機械翻訳】

Electron Probe Microanalysis of Transition Metals using L lines: The Effect of Self-absorption

著者 (3件)： Llovet Xavier (Scientific and Technological Centers, Universitat de Barcelona, Lluis Sole i Sabaris 1-3, Barcelona, Spain) ,  Moy Aurelien (Department of Geoscience, University of Wisconsin, Madison, WI , USA) ,  Fournelle John H. (Department of Geoscience, University of Wisconsin, Madison, WI , USA)
資料名： Microscopy and Microanalysis  (Microscopy and Microanalysis)
巻： 28  号： 1  ページ： 123-137  発行年： 2022年 
JST資料番号： W1587A  ISSN： 1431-9276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： L[数式:原文を参照] X線を用いた第1列遷移金属のElectronマイクロプローブベースの定量的組成測定は,他の効果,自己吸収によって妨げられる。広いX線線が広い吸収端近くに位置するときに生じるこの効果は,マトリックス補正によって説明されない。自己吸収を無視することによる誤差を評価するために,金属Fe,Ni,Cu,およびZnターゲットから放射されたL[数式:原文を参照] X線強度を計算し,X線ラインのLorentzプロファイルを仮定し,吸収端近傍の質量吸収係数のエネルギー依存性を考慮した。計算したX線強度は,狭いX線線と単一固定吸収係数(従来のアプローチ)を仮定して得られたものから,Niの[数式:原文を参照]15%とFeの[数式:原文を参照]10%の最大偏差で,電子線エネルギーを増加するために,ますます増加することを見出した。対照的に,金属ZnとCuについて計算したX線強度は,従来のアプローチを用いて得られたものとは,著しくは異ならなかった。電子プローブ微量分析による遷移金属化合物の分析のためのこれらの結果の意味と自己吸収効果を説明する戦略を論じた。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 吸収係数 ,  *遷移金属 ,  電子ビーム ,  軟X線 ,  プローブ ,  亜鉛 ,  鉄 ,  銅 ,  ニッケル ,  電子プローブ ,  *微量分析 ,  遷移金属化合物 ,  *自己吸収 ,  エネルギー依存性 ,  吸収端

著者キーワード (5件)： 電子プローブ微量分析 ,  L線 ,  質量減衰係数 ,  自己吸収 ,  軟X線

分類 (1件)： その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 遷移金属 ,  プローブ ,  微量分析 ,  自己吸収