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J-GLOBAL ID：202202279390372527   整理番号：22A0169271

自己組織化単分子層に基づく大面積トンネル接合におけるインピーダンス分光法の重要性【JST・京大機械翻訳】

Importance of impedance spectroscopy in self-assembled monolayer-based large-area tunnel junctions

著者 (3件)： Francis Jaismon (Department of Physics, National Institute of Technology Calicut, Calicut, Kerala, 673601, India) ,  Bassam S A (Department of Physics, National Institute of Technology Calicut, Calicut, Kerala, 673601, India) ,  Sangeeth C S Suchand (Department of Physics, National Institute of Technology Calicut, Calicut, Kerala, 673601, India)
資料名： Journal of Physics. D. Applied Physics  (Journal of Physics. D. Applied Physics)
巻： 55  号： 7  ページ： 075301 (9pp)  発行年： 2022年 
JST資料番号： B0092B  ISSN： 0022-3727  CODEN： JPAPBE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 2端子直流(DC)測定は,自己組織化単層(SAM)ベースの大面積トンネル接合の電気的キャラクタリゼーションのために一般的に使用されている。DC測定では,分子接合を通した全電流を測定し,界面効果から分子効果を分離するのは不可能であった。電荷輸送パラメータは電流-電圧関係から間接的に導かれる。例えば,電極とSAM間の界面での接触抵抗を,抵抗対鎖長曲線外挿によって推定した。他方,等価回路モデリングと共にインピーダンス分光法を通して,接合の各成分を決定することができた。本論文では,以前に報告されているアルカンチオールSAM系分子接合のDCとインピーダンス分光法データの両方を用いて推定した接触抵抗値を比較した。抵抗保護層(PL)を有する分子トンネル接合の場合,広く使用されたDC測定だけでは,接合を通る電荷輸送がPL自体によって支配されているので,接合の実際の分子挙動を示さないことを示した。また,欠陥SAM接合のDC測定から推定した接触抵抗は誤って,不正確な輸送機構をもたらすが,インピーダンス測定は接触抵抗の実際値を推定し,このような欠陥分子接合による電荷輸送のボトルネックを同定した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 界面 ,  接触抵抗 ,  電圧 ,  電流 ,  等価回路 ,  外挿法 ,  *トンネル接合 ,  直流 ,  *自己組織化
準シソーラス用語： 電荷輸送 ,  アルカンチオール ,  インピーダンス測定 ,  分子接合 ,  鎖長 ,  *インピーダンス分光法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 金属-絶縁体-金属構造  (BM03087F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 自己組織化単分子層 ,  大面積 ,  トンネル接合 ,  インピーダンス分光法 ,  重要性