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J-GLOBAL ID：202202280305789486   整理番号：22A0438573

ネブライザスプレー熱分解法による希土類イオンドープNiO薄膜から作製した高感度紫外光検出器【JST・京大機械翻訳】

Highly sensitive ultraviolet photodetectors fabricated from rare earth metal ions doped NiO thin films via nebulizer spray pyrolysis method

著者 (8件)： Raj I. Loyola Poul (Department of Physics, Ananda College, Devakottai 630303, India) ,  Valanarasu S. (PG and Research Department of Physics, Arul Anandar College, Karumathur 625 514, India) ,  Vinoth S. (Department of Electronics and Communication Engineering, Manakula Vinayagar Institute of Technology, Kalitheerthalkuppam, Puducherry 605 107, India) ,  Chidhambaram N. (Department of Physics, Rajah Serfoji Government College (Autonomous), Thanjavur 613 005, Tamil Nadu, India) ,  Isaac R.S. Rimal (Department of Nanotechnology, Noorul Islam Centre for Higher Education, Kumaracoil, Kanyakumari District, 629180 Tamil Nadu, India) ,  Ubaidullah Mohd (Department of Chemistry, College of Science, King Saud University, Riyadh 11451, Saudi Arabia) ,  Shaikh Shoyebmohamad F. (Department of Chemistry, College of Science, King Saud University, Riyadh 11451, Saudi Arabia) ,  Pandit Bidhan (Department of Materials Science and Engineering and Chemical Engineering, Universidad Carlos III de Madrid, Avenida de la Universidad 30, 28911 Leganes, Spain)
資料名： Sensors and Actuators. A. Physical  (Sensors and Actuators. A. Physical)
巻： 333  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： B0345C  ISSN： 0924-4247  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本報告では,原料として塩化ニッケルを用いて450°Cでガラススライド上に純NiOおよび(1%-Er,Tb,Pr)REドープNiO薄膜試料を調製するために,自動噴霧熱分解(NSP)経路を選択した。系統的研究を通して,それらの微細構造(XRD),表面形態(FESEM),組成(EDX),光学的(UV-Vis吸収および光ルミネセンス),UV光伝導(Keithly 発生源メートル 2450)情報を得た。NiO薄膜の空間群(Fm3m)を占める面心立方構造を,X線回折(XRD)分析により不純物相なしで確認した。また,微結晶サイズに及ぼすNiOによる(1%-Er,Tb,Pr)REドーピングの効果は,より高いイオン半径PrドープNiO試料が31nmの高い結晶サイズを有することを確認した。形態研究は,NiO薄膜サンプルでドープした純粋とREが,高密度の曇った球状形態を持つことを示した。UV研究から,PrドープNiO試料は3.49eVの高い吸収とより低いバンドギャップを示した。欠陥サイトの存在に関連した発光ピークをPL分析により調べ,PrドープNiO試料でより高い再結合中心が生じ,試料がより高いキャリア濃度を有することを示唆した。作製した純粋及び(1%-Er,Tb,Pr)REドープNiO薄膜光検出器をI-V,光センシングパラメータ及び過渡特性によって解析した。その結果,PrドープNiO光検出器試料は,より高い光電流,良好な応答性(3.45×10-1AW-1),検出性(1.20×1010Jones),EQE(81%),および光過渡特性は,種々のUV光強度(1~5mW/cm2)下で,光検出器試料の良好な応答および再現性を示した。光センシングの結果から,PrドープNiO光検出器試料は光検出器の応用に適していることを確認した。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線回折 ,  過渡応答 ,  光電流 ,  *紫外線 ,  微結晶 ,  *薄膜 ,  発光 ,  *光検出器 ,  光ルミネセンス ,  不純物 ,  *ドーピング ,  キャリア密度 ,  バンドギャップ
準シソーラス用語： 電界放出型走査電子顕微鏡 ,  表面形態 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： NiO薄膜 ,  REドーピング ,  高い吸収と低いバンドギャップ ,  光過渡研究 ,  UV光検出器

分類 (1件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F)

タイトルに関連する用語 (7件)： 希土類イオン ,  ドープ ,  薄膜 ,  作製 ,  高感度 ,  紫外光 ,  検出器