Krielaart M.A.R. について
Delft University of Technology, Faculty of Applied Sciences, Department of Imaging Physics, Lorentzweg 1, 2628 CJ Delft, The Netherlands について
Kruit P. について
Delft University of Technology, Faculty of Applied Sciences, Department of Imaging Physics, Lorentzweg 1, 2628 CJ Delft, The Netherlands について
Ultramicroscopy について
Mach-Zehnder干渉計 について
相互作用 について
電位 について
電場 について
励起 について
位相変調 について
モード変換 について
位相板 について
近似法 について
回折効率 について
位相 について
波面 について
遠方場 について
パターン形成 について
近接場 について
Electron波面変調 について
WKB近似 について
Electronミラー について
ビーム成形 について
電子顕微鏡,イオン顕微鏡 について
レーザの応用 について
干渉測定と干渉計 について
電子 について
電子波 について
変調 について
原理 について