Doukas S. について
Department of Materials Science and Engineering, University of Ioannina, 45110, Ioannina, Greece について
Mensz P. について
Micro Nanoelectronics Research Center, Technion, Haifa 320000, Israel について
Myoung N. について
Department of Physics Education, Chosun University, Gwangju, 61452, Republic of Korea について
Ferrari A. C. について
Cambridge Graphene Centre, University of Cambridge, Cambridge CB3 0FA, United Kingdom について
Goykhman I. について
Micro Nanoelectronics Research Center, Technion, Haifa 320000, Israel について
Lidorikis E. について
Department of Materials Science and Engineering, University of Ioannina, 45110, Ioannina, Greece について
Lidorikis E. について
University Research Center of Ioannina (URCI), Institute of Materials Science and Computing, 45110 Ioannina, Greece について
Physical Review. B について
最適化 について
赤外線 について
電圧 について
半導体 について
光検出器 について
酸化物 について
非平衡状態 について
温度依存性 について
画像処理 について
スペクトル について
キャリア密度 について
光検出 について
広帯域 について
バンドギャップ について
グラフェン について
Josephson接合・素子 について
グラフェン について
シリコン について
赤外光 について
検出器 について