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J-GLOBAL ID：202202283194440837   整理番号：22A1085615

方形導波管を用いた損失性誘電体スラブの高速ロバスト特性評価【JST・京大機械翻訳】

Fast and Robust Characterization of Lossy Dielectric Slabs Using Rectangular Waveguides

著者 (2件)： Wang Xuchen (Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland) ,  Tretyakov Sergei A. (Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland)
資料名： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 70  号： 4  ページ： 2341-2350  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誘電材料の導波路キャラクタリゼーションは,誘電率を測定するための便利で広帯域のアプローチである。従来のマイクロ波測定では,材料試料は,通常,導波路開口にフィットし,閉じた導波路で測定した。この方法は,導波路開口が小さくなるミリ波とサブミリ波測定には実用的ではなく,導波路断面積と同じ寸法を正確にサンプリングするのは難しい。本論文では,外部導波路を拡張する任意形状の誘電体スラブを測定できる方法を提示する。この方法では,測定した試料を2つの導波路フランジの間に配置し,不連続性を創った。測定システムを等価Π回路として特性評価し,Π回路の回路要素を散乱パラメータから抽出した。測定した試料の等価シャントインピーダンスは材料誘電率によってのみ決定され,不連続の試料形状,位置,サイズ,および他の構造的詳細にむしろ鈍感であることが分かった。この特徴は誘電率の正確な測定に利用できる。薄層誘電体試料の解析的抽出式を提供した。厚い層に対して,フィードフォワードニューラルネットワークに基づく数値最適化法を導入し,誘電率を検索した。提案方法は,マイクロ波からサブテラヘルツ周波数までの中損失と高損失誘電体の誘電率の測定に非常に有用である。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 断面積 ,  薄膜 ,  マイクロ波 ,  *誘電体 ,  誘電率 ,  フランジ ,  *方形導波管 ,  マイクロ波測定 ,  誘電材料 ,  EHF波 ,  不連続性 ,  広帯域 ,  導波路 ,  *ロバスト性
準シソーラス用語： Sパラメータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 導波管,同軸線路  (NC04040N) ,  R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

タイトルに関連する用語 (6件)： 方形導波管 ,  損失 ,  誘電体 ,  スラブ ,  ロバスト特性 ,  評価