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J-GLOBAL ID：202202284089346987   整理番号：22A1032291

AA2011のHounsfieldユニット(HU)測定に及ぼすX線計算機トモグラフィー(XCT)走査パラメータ効果【JST・京大機械翻訳】

X-Ray Computed Tomography (XCT) Scanning Parameters Effects on the Hounsfield Unit (HU) Measurements for AA2011

著者 (2件)： Baydoun Ahmad M. R. (American University of Beirut, Riad El-Solh, Lebanon) ,  Hamade Ramsey F. (American University of Beirut, Riad El-Solh, Lebanon)
資料名： ASME Conference Proceedings  (ASME Conference Proceedings)
号： IMECE2021  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： A0478C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線コンピュータ断層撮影(XCT)は,内部欠陥を検出し,XCTを貴重な非破壊評価(NDE)にする異なる材料を区別することができる強力な技術である。しかしながら,X線CTをNDE法として用いるとき,走査パラメータと方法論はしばしば報告されており,特定の金属または合金を分析するときの最適走査パラメータに関するコンセンサスの欠如をもたらす。本研究では,16ビットX線CTスキャンを用いてAA201を特性化した。走査(ボクセル)分解能,管電圧,管電流,および試料サイズ(厚さ)の4つのパラメータを調べた。2つのサンプルディスクを16ビットの画像ビット深さで同時に走査した。平均および標準偏差Hounsfieldユニット(HU)値を計算し,次にこれら2つの値の予測モデルを開発するために使用した。モデル方程式を用いて,AA2011HU平均と標準偏差値を特性化するための望ましい走査パラメータの組合せを決定する表面プロットを作成した。より高い走査分解能(より小さなボクセル),より大きな管電圧および管電流設定,および厚いサンプルは,AA201を走査するとき,標準偏差HU値が小さく,平均HU値に収束すると結論した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 円板 ,  金属 ,  合金 ,  電圧 ,  評価 ,  標準偏差 ,  厚み ,  *パラメトリック効果 ,  *走査 ,  キャラクタリゼーション ,  *計算機トモグラフィー ,  *X線CT ,  ボクセル ,  予測モデル
準シソーラス用語： 非破壊評価 ,  管電圧 ,  管電流 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： X線技術  (BA02060D) ,  ルミネセンス一般  (BM08091B) ,  非破壊試験  (HB02030F) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： HU ,  X線計算機トモグラフィー ,  xCT ,  走査 ,  パラメータ効果