Jing Yongkai について
State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, Tianjin, China について
Fan Chao について
State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, Tianjin, China について
State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, Tianjin, China について
Liu Zhe について
State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, Tianjin, China について
Sun Chun について
State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, Tianjin, China について
Wang Mengjun について
State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, Tianjin, China について
Zheng Hongxing について
State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment, Hebei University of Technology, Tianjin, China について
Li Erping について
Zhejiang Provincial Key Laboratory of Advanced Microelectronic Intelligent Systems and Applications, Hangzhou, China について
IEEE Electron Device Letters について
光吸収 について
光検出器 について
光ポンピング について
応答特性 について
ケイ素 について
暗電流 について
可視光 について
検出器 について
応答時間 について
単一層 について
電子正孔対 について
高速応答 について
検出能 について
硫化スズ について
二次元材料 について
測光と光検出器一般 について
暗電流 について
可視光 について
検出器 について
Au について
Al について