文献
J-GLOBAL ID:202202286894156086   整理番号:22A1083287

原子層蒸着を用いて作製したフッ素ドープチタニアの抵抗スイッチング特性【JST・京大機械翻訳】

Resistive switching properties for fluorine doped titania fabricated using atomic layer deposition
著者 (6件):
資料名:
巻: 10  号:ページ: 031105-031105-8  発行年: 2022年 
JST資料番号: U7122A  ISSN: 2166-532X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
本研究では,抵抗ランダムアクセスメモリ(RRAM)デバイス用のインハウスフッ素源を有する原子層堆積(ALD)により作製した新しい抵抗スイッチング材料FドープTiO_2(F:TiO_2)を実証した。RRAMは酸化物中の酸素イオンの再分配による抵抗スイッチング(RS)特性を使用するので,酸素空孔の制御が要求され,酸素欠陥制御不良がRRAM信頼性を著しく低減することを示した。したがって,本研究は,RS挙動の主要試薬のための酸素欠陥よりむしろフッ素アニオンを用いたFベースRRAMデバイスを設計した。ALDにおける新しいその場ドーピング法を用いてF:TiO_2 RRAM材料を開発し,そのRS挙動を調べた。Pt/F:TiO_2/Ptデバイスは,フッ素アニオン移動により,成形無しバイポーラRSと自己整流挙動を示し,クロスバーアレイ構造RRAMにおいて,効果的にsneak電流を減少させた。ドープフッ素はTiO_2中の酸素関連欠陥を不動態化し還元し,X線光電子分光分析により確認した。ALDによるFベースRS材料の採用は,高信頼性RRAMのための実行可能な候補を提供する。Copyright 2022 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体集積回路 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る