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J-GLOBAL ID：202202286992327018   整理番号：22A0476480

TEM中の単一AuGeナノ粒子の温度に対する電子ビーム照射の効果【JST・京大機械翻訳】

Effect of electron beam irradiation on the temperature of single AuGe nanoparticles in a TEM

著者 (4件)： Kryshtal Aleksandr (Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology, al. Mickiewicza 30, Krakow 30-059, Poland) ,  Mielczarek Mikolaj (Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology, al. Mickiewicza 30, Krakow 30-059, Poland) ,  Pawlak Jakub (Faculty of Physics and Applied Computer Science, AGH University of Science and Technology, al. Mickiewicza 30, Krakow 30-059, Poland) ,  Pawlak Jakub (Academic Center for Materials and Nanotechnology, AGH University of Science and Technology, al. Mickiewicza 30, Krakow 30-059, Poland)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 233  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子ビーム照射下でのナノ粒子の実際の温度の知識は,in situTEM研究に対する需要が高まっている。本研究では,TEMとSTEMにおける単一AuGeナノ粒子の温度上昇の実験的研究による問題に取り組んだ。二相半球AuGeナノ粒子を,SiN_x基板上のAu/Ge膜のディウェッティングにより形成した。ナノ粒子は,広範囲の電子ビーム電流の下で293~653Kの温度範囲で電子顕微鏡中で熱的にサイクルした。溶融時のAuGeナノ粒子の形態のジャンプ様変化を温度標識として用いた。二元合金ナノ粒子における融解-結晶化プロセスは,大きな温度ヒステリシスで,完全に可逆的であった。それは,同じナノ粒子で繰り返され,電子ビームで誘起された局所温度上昇を測定する簡単でロバストな方法を提供する。AuGeナノ粒子の温度は電子ビーム電流密度Jと共に直線的に上昇し,温度増加はTEMにおいてJ~1.8×106A/m2で25Kに達した。完全に既知の試料形状を考えて,理論的手法を用いて温度増分を計算し,実験観察と比較した。その結果,類似の構成における実際の温度の評価に対する勧告を提供した。STEMモードでは,ナノ粒子の温度の変化は電子ビームとラスタ走査の通常のパラメータで記録されず,金属と合金ナノ粒子のin situ研究でこのモードを好ましいものにした。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 結晶化 ,  電子顕微鏡 ,  *電子照射 ,  *電子ビーム ,  電流 ,  *金 ,  *ゲルマニウム ,  二元合金 ,  電流密度 ,  ロバスト性 ,  昇温 ,  *ナノ粒子
準シソーラス用語： 温度範囲 ,  脱濡れ ,  合金ナノ粒子 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： その場透過型電子顕微鏡観察 ,  相変態 ,  局所温度測定 ,  合金ナノ粒子 ,  Electronビーム効果

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (3件)： TEM ,  ナノ粒子 ,  電子ビーム照射