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J-GLOBAL ID：202202287045223304   整理番号：22A0655093

剪断流Zピンチプラズマ排気プルームのElectron温度と密度の測定【JST・京大機械翻訳】

Measuring Electron Temperature and Density of a Sheared-Flow Z-Pinch Plasma Exhaust Plume

著者 (1件)： Graebner Michelle (University of Washington)
資料名： AIAA Conference Proceedings / Meeting Papers  (AIAA Conference Proceedings / Meeting Papers)
巻： 2022  号： AIAA SCITECH 2022 Forum  ページ： 2611  発行年： 2022年 
JST資料番号： H0236B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 核融合エネルギーや宇宙推進のような多くの応用におけるプラズマの例外的な可能性のために,プラズマを安定化し,含有するのは,数十年間,研究者の間での緊急事件である。プラズマ混乱に対する一つの有望な解決策は,プラズマが磁気的に混乱し,Zピンチ周辺の低密度プラズマを加速することにより安定化される,剪断流安定化Zピンチコンフュージョンである。この混乱法をさらに調査するために,TukeyのZaP-HDフローZピンチの大学からの排気プルームの電子密度および温度を,三重Langmuirプローブからの測定を用いて,端壁から,また,2次元プルーム角度および半径に沿って,2次元軸方向位置において特徴づけた。プローブ測定は,5-7kVの銀行供給電圧に対して1019m-3のオーダーと10-100eVの間の電子温度の電子密度を示した。平均して,電子温度と密度は,プルーム角と半径の増加とともにそれぞれ増加し,減少し,熱膨張による外縁に沿った剪断流を伴う発散排気プルームを示唆した。Langmuirプローブにリンクした信号雑音はピンチ形成の開始に対する測定の信頼性に影響を与えた。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： Langmuir探針 ,  *Zピンチ ,  雑音 ,  *プラズマ ,  *剪断流 ,  電子温度 ,  電子密度 ,  熱膨張 ,  プローブ ,  信頼性 ,  *排気プルーム ,  磁気 ,  *プルーム ,  二次元 ,  カオス

分類 (2件)： プラズマ診断  (BJ02090L) ,  プラズマ生成・加熱  (BJ02060E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 剪断流 ,  Zピンチ ,  プラズマ ,  排気プルーム ,  密度