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J-GLOBAL ID：202202289164768964   整理番号：22A0007981

化学ドーピングと側鎖開裂の同期的実現による高分子の熱電性能の改良【JST・京大機械翻訳】

Improving the thermoelectric performances of polymer via synchronously realizing of chemical doping and side-chain cleavage

著者 (10件)： Wu Jiatao (College of Chemistry and Chemical Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, PR China) ,  Yin Xiaojun (Shenzhen Key Laboratory of Polymer Science and Technology, College of Materials Science and Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, PR China) ,  Yang Fan (Department of Bioengineering, University of California at Berkeley, Berkeley, CA 94720, United States) ,  Wang Shichao (Shenzhen Key Laboratory of Polymer Science and Technology, College of Materials Science and Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, PR China) ,  Liu Yijia (Department of Applied Biology and Chemical Technology, The Hong Kong Polytechnic University, Hung Hom, Hong Kong, PR China) ,  Mao Xianhua (College of Chemistry and Chemical Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, PR China) ,  Nie Xiuxiu (College of Chemistry and Chemical Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, PR China) ,  Yang Shanlin (College of Chemistry and Chemical Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, PR China) ,  Gao Chunmei (College of Chemistry and Chemical Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, PR China) ,  Wang Lei (Shenzhen Key Laboratory of Polymer Science and Technology, College of Materials Science and Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, PR China)
資料名： Chemical Engineering Journal  (Chemical Engineering Journal)
巻： 429  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0723A  ISSN： 1385-8947  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 側鎖開裂は,ポリマー主鎖の配置を再構成する効果的な戦略であり,それらの電気的性質と腐食安定性を改善する。しかし,ポリマー半導体の側鎖開裂と化学的ドーピングを同時に実現することは報告されていない。ここでは,エステル-開裂基(PBDTTT-TET_x,X)の組み込みを有する一連のp型高分子半導体を設計し,合成した。PBDTTT-TET_0.5上の導入した機能性エステル側鎖は,通常使用されるp型ドーパントFeCl_3によって分解でき,参照試料(非分解性エステル側鎖を有するPBDTTT-PET_0.5)と比較して,電気伝導率の最大120倍増強と30mMのFeCl_3濃度における15倍の増大をもたらした。走査電子顕微鏡,原子間力顕微鏡測定およびX線回折は,側鎖開裂に伴う結晶ドメインの増加が(bi)ポーラロンネットワークの形成に寄与することを明らかにした。改善されたドーピング効率は,それらの紫外光電子分光法とUV-vis-NIR分光分析結果によって反映できる。さらに,PBDTTT-TET_0.05に対して,PBDTTT-TETよりも5.8倍高い,さらに最適化した力率を達成した。したがって,π共役骨格へのFeCl_3-開裂エステル基の導入による分子設計戦略は,先進TE材料を確立するための効果的アプローチを提供した。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線回折 ,  界面 ,  最適化 ,  重合体 ,  走査電子顕微鏡 ,  電気伝導率 ,  腐食 ,  ポーラロン ,  エステル ,  *ドーピング ,  *側鎖 ,  ドーパント ,  分子設計 ,  原子間力顕微鏡
準シソーラス用語： π共役 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 側鎖切断 ,  ベンゾジチオフェン ,  高分子熱電材料 ,  P-ドーピング ,  界面工学

分類 (1件)： 下水,廃水の生物学的処理  (SC03060H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 化学ドーピング ,  側鎖 ,  開裂 ,  高分子