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J-GLOBAL ID：202202290260209516   整理番号：22A0984886

太陽光発電パネル相互接続の微細構造評価:レビュー【JST・京大機械翻訳】

Microstructure Evaluation of Photovoltaic Solar Panel’s Interconnection: A Review

著者 (2件)： Hamid Sabarina Abdul (Universiti Kuala Lumpur (UniKL), British Malaysia Institute (BMI) Jalan Sungai Pusu Gombak Malaysia Selangor) ,  Zulkifli Muhammad Nubli (Universiti Kuala Lumpur (UniKL), British Malaysia Institute (BMI) Jalan Sungai Pusu Gombak Malaysia Selangor)
資料名： Materials Science Forum  (Materials Science Forum)
巻： 1055  ページ： 27-35  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0716B  ISSN： 0255-5476  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,光起電力(PV)相互接続の微細構造評価を行うのに用いる方法論をレビューすることを目的とする。この解析は破壊解析目的のための相互接続の微細構造特性を同定するのに重要である。相互接続は,PV技術の効率と信頼性に対する主要な関心事になる。本論文では,はんだ付け,導電性接着剤および超音波のような相互接続技術に使用される一般的な技術を,接合界面での破壊モードおよび破壊機構を同定するための評価方法によって示した。故障現象の視覚解析と形態による破壊モードと故障メカニズムの同定は,リスクを強調して,対策を開発するために重要であった。エレクトロニクスとPV産業における微細構造特性評価技術の評価を,異なる信頼性試験による各技術の成果を同定することによって示した。エレクトロニクス産業における故障解析の発見は,より成熟し,PV開発に対する基準になった。このレビューからの成果は,開発プロセスにおける初期点における設計修正を通して,故障を除去または最小化することにより,PV産業における相互接続結合を改善するのに有益であった。Copyright 2022 Trans Tech Publications Ltd. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 光起電力 ,  視覚 ,  超音波 ,  故障 ,  信頼性 ,  接着剤 ,  はんだ付 ,  信頼性試験 ,  *相互接続 ,  故障解析 ,  電子技術 ,  破壊モード
準シソーラス用語： 破壊機構 ,  故障メカニズム ,  導電性接着剤 ,  接合界面 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 相互接続 ,  信頼性 ,  失敗 ,  微細構造のキャラクタリゼーション ,  PV

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 太陽光発電パネル ,  相互接続 ,  微細構造 ,  評価 ,  レビュー