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J-GLOBAL ID:202202290490761403   整理番号:22A0434892

Ni中間層を用いたSUS430/Ti3SiC2拡散接合継手における界面反応層の微細構造発達と成長速度論【JST・京大機械翻訳】

Microstructural evolution and growth kinetics of interfacial reaction layers in SUS430/Ti3SiC2 diffusion bonded joints using a Ni interlayer
著者 (11件):
資料名:
巻: 48  号:ページ: 4484-4496  発行年: 2022年 
JST資料番号: H0705A  ISSN: 0272-8842  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Ti_3SiC_2セラミックとSUS430ステンレス鋼(SS)をNi中間層を用いた固体拡散接合法によって接合した。拡散接合は真空下850°C~1100°Cの温度範囲で行った。界面反応相,形態発展,成長速度および引張強度を系統的に調査した。すべての場合において,Ti_3SiC_2とSS間の相互拡散と反応はNi箔によって効果的に防止でき,継手における良好な遷移が健全な接合に利益をもたらす。SSマトリックスに隣接する継手の界面はγ固溶体と少量のσ金属間化合物から成っていた。Ni/Ti_3SiC_2界面の化合物はNi/Ni(Si)/Ni_31Si_12+Ni_16Ti_6Si_7+Ti_3SiC_2+TiC_x/Ti_2Ni+Ti_3SiC_2+TiC_x/Ti_3SiC_2であり,これはSiとNi原子間の相互拡散と化学反応により形成された。拡散機構と反応機構は相互に関連し,各反応ゾーンの幅を決定した。さらに,拡散活性化エネルギーは113kJ/molであった。引張強度は,接合温度の上昇と共に増加した。SUS430/Ni/Ti_3SiC_2継手から32.3MPaと88.8MPaの最小と最大強度が得られ,それぞれ850°Cと1100°Cで接合実験を行った。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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セラミック・陶磁器の製造  ,  セラミック・磁器の性質 

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