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J-GLOBAL ID：202202291204333914   整理番号：22A0482707

28nm CMOSにおける改良型BIST-TDCによるDTCのミスマッチ解析【JST・京大機械翻訳】

Mismatch Analysis of DTCs With an Improved BIST-TDC in 28-nm CMOS

著者 (6件)： Chen Peng (University of Macau, Macau, China) ,  Yin Jun (Department of ECE, State-Key Laboratory of Analog and Mixed-Signal VLSI, Faculty of Science and Technology, University of Macau, Macau, China) ,  Zhang Feifei (School of Electrical and Electronic Engineering, University College Dublin, Dublin D4, Ireland) ,  Mak Pui-In (Department of ECE, State-Key Laboratory of Analog and Mixed-Signal VLSI, Faculty of Science and Technology, University of Macau, Macau, China) ,  Martins Rui P. (Department of ECE, State-Key Laboratory of Analog and Mixed-Signal VLSI, Faculty of Science and Technology, University of Macau, Macau, China) ,  Staszewski Robert Bogdan (School of Electrical and Electronic Engineering, University College Dublin, Dublin D4, Ireland)
資料名： IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers  (IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers)
巻： 69  号： 1  ページ： 196-206  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0226B  ISSN： 1549-8328  CODEN： ITCSCH  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ディジタルツータイム変換器(DTC)の非線形性は,DTCベース全ディジタル位相同期ループ(ADPLL)の性能改善に極めて重要である。本論文では,カスケード遅延ユニットDTCの不整合を特性化し,解析した。位相対周波数検出器(PFD)で支援された改良ビルトイン自己テスト(BIST)時間対ディジタル変換器(TDC)を通して,サブハーフps精度の測定システムを構築し,特性評価を行う。28nm CMOSにおいて,DTC伝達関数を測定し,ミスマッチをモンテカルロシミュレーション結果と比較した。積分非線形性(INL)結果を互いに比較し,DTCがADPLLに展開される場合,帯域内分数スパーレベルに変換した。BIST-TDCシステムは,高価な装置や複雑なセットアップなしにオンチップ遅延を特徴付ける。ΔΣループへのPFD添加の有効性を検証した。全体のBISTシステムは,アナログブロックの非線形性に取り組むために,システム自己キャリブレーションアルゴリズムで0.6mWを消費する。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  伝達関数 ,  変換器 ,  アナログ系 ,  非線形性 ,  位相 ,  検出器 ,  不整合 ,  キャラクタリゼーション ,  有効性 ,  周波数帯 ,  *BIST ,  *CMOS
準シソーラス用語： モンテカルロシミュレーション ,  オンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  周波数変換回路  (NC05030J) ,  AD・DA変換回路  (NC05080M)

タイトルに関連する用語 (6件)： CMOS ,  BIST ,  TDC ,  DTC ,  ミスマッチ ,  解析