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J-GLOBAL ID:202202291457318561   整理番号:22A0482095

65nmCMOSにおける耐放射線性ディジタル制御リング発振器【JST・京大機械翻訳】

Radiation-Tolerant Digitally Controlled Ring Oscillator in 65-nm CMOS
著者 (5件):
資料名:
巻: 69  号:ページ: 17-25  発行年: 2022年 
JST資料番号: C0235A  ISSN: 0018-9499  CODEN: IETNAE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,全ディジタル位相同期ループ(ADPLL)実装に適した,放射線耐性ディジタル制御相補型金属光電子増倍半導体(CMOS)リング発振器設計について述べた。厳しい放射環境によって提示された課題に対処するために,広い同調範囲発振器アーキテクチャを,優れた単一事象効果(SEE)耐性で提示した。提案した発振器回路は65nm技術で実験的に特性化され,63.5MeVmg-1cm2の線形エネルギー移動(LET)までのSEE感度の大幅な低減を達成し,照射下で高調波振動誤差がなく,1.5Gradを超える全放射線量に耐えることを示した。1.28GHzの設計周波数において,発振器は,1MHzオフセットで-105dBc/Hzの位相雑音を達成しながら,7mWの電力を散逸し,159dBの性能指数(FOM)に対応する。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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発振回路  ,  半導体の放射線による構造と物性の変化 
タイトルに関連する用語 (3件):
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