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J-GLOBAL ID：202202292043702883   整理番号：22A0942619

LCPGとピクセル化マイクロ偏光子アレイを用いたロバストな動的位相シフト共通経路シェアログラフィー【JST・京大機械翻訳】

Robust dynamic phase-shifting common-path shearography using LCPG and pixelated micropolarizer array

著者 (13件)： Yan Peizheng (School of Instrument Science and Optoelectronics Engineering, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, China) ,  Yan Peizheng (Anhui Province Key Laboratory of Measuring Theory and Precision Instrument, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui,230009, China) ,  Liu Xiangwei (School of Instrument Science and Optoelectronics Engineering, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, China) ,  Liu Xiangwei (Anhui Province Key Laboratory of Measuring Theory and Precision Instrument, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui,230009, China) ,  Dong Jingtao (School of Instrument Science and Optoelectronics Engineering, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, China) ,  Dong Jingtao (Anhui Province Key Laboratory of Measuring Theory and Precision Instrument, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui,230009, China) ,  Wang Yonghong (School of Instrument Science and Optoelectronics Engineering, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, China) ,  Wang Yonghong (Anhui Province Key Laboratory of Measuring Theory and Precision Instrument, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui,230009, China) ,  Wang Biao (School of Instrument Science and Optoelectronics Engineering, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, China) ,  Wang Biao (Anhui Province Key Laboratory of Measuring Theory and Precision Instrument, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui,230009, China) ,  Li Jianquan (School of Instrument Science and Optoelectronics Engineering, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, China) ,  Li Jianquan (Anhui Province Key Laboratory of Measuring Theory and Precision Instrument, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui,230009, China) ,  Sun Fangyuan (School of Mechanical Engineering, Suzhou University of Science and Technology, Suzhou, 215009, China)
資料名： Optics and Lasers in Engineering  (Optics and Lasers in Engineering)
巻： 153  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： A0602B  ISSN： 0143-8166  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 共通経路干渉計に基づく簡潔で信頼できる動的位相シフトシヤグラフィシステムを提案する。液晶偏光格子(LCPG)を用いて,共通の光路を持つ2つの横方向せん断画像を生成した。テスト中の物体のせん断画像は互いに干渉し,画素化マイクロポーラアレイを用いて画素化キャリアを導入し,動的位相シフトを用いて動的変形の測定を可能にした。通常のイメージングシステムと比較して,シヤログラフィーシステムは,画像レンズと画素化マイクロ偏光器アレイを有するカメラの間にLCPGを挿入するだけを必要とする。このシステムは,コンパクトな共通経路と動的位相シフト法から恩恵を受ける環境外乱に対して弾力性がある。理論解析と実験が完了し,このシステムがシヤグラフィーの利点を完全に利用し,シヤグラフィー応用の信頼性を改善することを示した。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *位相シフト ,  液晶 ,  カメラ ,  干渉計 ,  剪断 ,  *偏光 ,  レンズ ,  信頼性 ,  弾性 ,  偏光器 ,  *偏光子 ,  *画素 ,  *位相 ,  *ロバスト性
準シソーラス用語： 光路 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 液晶偏光格子 ,  共通経路シェアログラフィー ,  ピクセル化キャリア位相シフト ,  非破壊検査

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (6件)： ピクセル ,  偏光子 ,  アレイ ,  ロバスト ,  位相シフト ,  経路