特許
J-GLOBAL ID：202203000664312571
接触解析システム、接触解析方法およびプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人創成国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-190213
公開番号（公開出願番号）：特開2022-079187
出願日： 2020年11月16日
公開日（公表日）： 2022年05月26日
要約：
【課題】確実かつ簡易に対象物との接触を判定することができる接触解析システム、接触解析方法およびプログラムを提供する。
【解決手段】接触解析システム1のメインサーバ100は、対象物位置情報記憶部110と、ユーザ情報記憶部120と、判定結果記憶部130と、ユーザ位置情報取得部140と、接近判定部150と、接触判定部160と、指標算出部180と、属性特定部190とを備える。
【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ユーザと対象物との接触を解析する接触解析システムであって、
前記ユーザが携帯するユーザ端末の位置情報を取得するユーザ位置情報取得部と、
前記対象物の設置位置に関する対象物位置情報を記憶する対象物位置情報記憶部と、
前記ユーザ位置情報取得部により取得されたユーザ位置情報と、前記対象物位置情報記憶部に記憶された対象物位置情報とから、前記ユーザの前記対象物への接近を判定する接近判定部と、
前記接近判定部により、前記ユーザが前記対象物に接近していると判定される場合に、前記ユーザ位置情報取得部により取得されたユーザ位置情報と、前記対象物位置情報記憶部に記憶された対象物位置情報とから、前記ユーザと前記対象物との接触を判定する接触判定部と
を備えることを特徴とする接触解析システム。
IPC (6件)：
G06Q 50/10
, G16Y 20/10
, G16Y 20/40
, G16Y 40/10
, G16Y 40/20
, G16Y 40/30
G06Q50/10
, G16Y20/10
, G16Y20/40
, G16Y40/10
, G16Y40/20
, G16Y40/30
