特許
J-GLOBAL ID:202203002853230864

多孔体の構造評価方法、構造評価装置、および構造評価プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-223034
公開番号(公開出願番号):特開2020-085751
特許番号:特許第6985573号
出願日: 2018年11月29日
公開日(公表日): 2020年06月04日
請求項(抜粋):
【請求項1】 CT画像を用い多孔体の構造を評価する多孔体の構造評価方法であって、 CT画像から細孔を検出し、 検出された細孔について、楕円柱が連結されたモデルに近似し、 各楕円柱について、断面積の2乗に反比例する流路抵抗を計算し、 計算された流路抵抗に基づいて多孔体の構造を評価する、 多孔体の構造評価方法。
IPC (4件):
G01N 15/08 ( 200 6.01) ,  G06F 30/20 ( 202 0.01) ,  G01N 23/046 ( 201 8.01) ,  G06F 30/10 ( 202 0.01)
FI (4件):
G01N 15/08 H ,  G06F 30/20 ,  G01N 23/046 ,  G06F 30/10
引用特許:
出願人引用 (2件)
引用文献:
出願人引用 (1件)
  • 閉塞理論の解説とろ過結果への適用

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