特許
J-GLOBAL ID:202203004227683035

蛍光測定装置および蛍光測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  柴山 健一 ,  柴田 昌聰
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-000070
公開番号(公開出願番号):特開2019-120570
特許番号:特許第6986452号
出願日: 2018年01月04日
公開日(公表日): 2019年07月22日
請求項(抜粋):
【請求項1】 対象物を含む蛍光画像を取得する蛍光画像取得部と、 前記対象物を含む干渉画像を取得する干渉画像取得部と、 前記干渉画像取得部により取得された干渉画像に基づいて光学的厚さ画像を求め、前記蛍光画像取得部により取得された蛍光画像および前記光学的厚さ画像の双方に共通に設定した関心領域において、前記蛍光画像の蛍光強度の積分値と前記光学的厚さ画像の光学的厚さの積分値とに基づいて前記対象物の蛍光発現率を求める演算部と、 を備える蛍光測定装置。
IPC (2件):
G01N 21/64 ( 200 6.01) ,  G01N 21/45 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01N 21/64 F ,  G01N 21/45 A

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