特許

J-GLOBAL ID：202203006211561560

果実の落下試験方法及び落下試験装置

発明者： 渡邊 高志 ,  大林 栄
出願人/特許権者： 国立研究開発法人農業・食品産業技術総合研究機構
代理人 (1件)： 弁護士法人クレオ国際法律特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2021-146970
公開番号（公開出願番号）：特開2022-068103
出願日： 2021年09月09日
公開日（公表日）： 2022年05月09日
要約：

【課題】イチゴのように傷付きやすい果実の落下損傷耐性を簡易に検定又は評価できる落下試験方法及びそれに用いられる落下試験装置を提供すること。 【解決手段】果実の衝撃への耐性を検定するため、果実を落下させた際の衝撃によって当該果実が受けた損傷を確認する果実の落下試験方法であって、個々の前記果実と前記果実を載置した硬質板の上面との間に、硬材からなるディスクを挟み込み、前記果実が当該ディスクに接した状態を維持したまま、前記硬質板を落下させることを特徴とする果実の落下試験方法、及びそれに用いられる果実の落下試験装置を提供する。 【選択図】図1

請求項（抜粋）：

果実の衝撃への耐性を検定するため、果実を落下させた際の衝撃によって当該果実が受けた損傷を確認する果実の落下試験方法であって、 個々の前記果実と前記果実を載置した硬質板の上面との間に、硬材からなるディスクを挟み込み、前記果実が当該ディスクに接した状態を維持したまま、前記硬質板を落下させることを特徴とする果実の落下試験方法。

IPC (1件)：

G01N 3/303

FI (1件)：

G01N3/303 C

Fターム (5件)：

2G061AA13 ,  2G061AB04 ,  2G061BA04 ,  2G061CA11 ,  2G061DA01