特許

J-GLOBAL ID：202203007404272864

質量分析装置及び質量分析方法

発明者： 鵜飼 和也 ,  勝山 祐治
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：JP2018035197
特許番号：特許第7070692号
出願日： 2018年09月21日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 試料に含まれる化合物由来のイオンのうち所定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する前段質量分離部と、該前段質量分離部で選択されたプリカーサイオンを開裂させてプロダクトイオンを生成する開裂部と、該開裂部で生成されたプロダクトイオンを質量分離する後段質量分離部とを備えた、MSn分析(nは2以上の整数)を実行可能な質量分析装置であって、 使用者による入力指示に応じて、前記開裂部におけるプリカーサイオンの開裂の態様を変化させる、又はプロダクトイオンの測定感度を変化させる少なくとも1つの測定パラメータの設定値が互いに異なる複数の測定条件を設定する測定条件設定部と、 前記複数の測定条件を用いて、目的化合物から生成され所定の質量電荷比を有するプリカーサイオンを開裂させて生成したプロダクトイオンを質量分離して測定することにより、前記複数の測定条件のそれぞれに対応する質量分析データを取得する測定実行部と、 前記質量分析データから、測定強度が予め決められた基準を超えているプロダクトイオンを複数抽出するプロダクトイオン抽出部と、 前記抽出した複数のプロダクトイオンのそれぞれについて、該プロダクトイオンの質量電荷比と測定強度、該プロダクトイオンを生成したプリカーサイオンの質量電荷比、及び該測定強度が得られたときの測定条件を特定し、前記複数のプロダクトイオンと該複数のプロダクトイオンのそれぞれについて特定された測定条件により複数のMRMスペクトル要素情報を作成するMRMスペクトル要素情報作成部と、 前記複数のMRMスペクトル要素情報に含まれる複数のプロダクトイオンの質量電荷比と測定強度によりMRMスペクトルを構成するMRMスペクトル構成部と、 前記MRMスペクトルを前記目的化合物の情報に対応付けて該目的化合物のライブラリデータを作成するライブラリデータ作成部と を備えることを特徴とする質量分析装置。

IPC (3件)：

G01N 27/62 ( 202 1.01) ,  H01J 49/00 ( 200 6.01) ,  H01J 49/42 ( 200 6.01)

FI (5件)：

G01N 27/62 B ,  H01J 49/00 310 ,  H01J 49/00 360 ,  H01J 49/00 500 ,  H01J 49/42 150