特許
J-GLOBAL ID:202203011701260651
帯電防止性防汚層の形状分析のための試片及びその製作方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
龍華国際特許業務法人
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2020-509013
特許番号:特許第6988055号
出願日: 2018年12月04日
請求項(抜粋):
【請求項1】 高分子基材と、
前記高分子基材上に形成された導電性高分子を含む帯電防止性防汚層と、
前記帯電防止性防汚層上に直接形成されたPtコーティング層と、
を含む帯電防止性防汚層の形状を分析するための試片。
IPC (3件):
G01N 1/28 ( 200 6.01)
, B32B 7/025 ( 201 9.01)
, C09K 3/16 ( 200 6.01)
FI (5件):
G01N 1/28 F
, B32B 7/025
, G01N 1/28 N
, C09K 3/16 108 B
, C09K 3/16 108 C
引用特許:
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