特許
J-GLOBAL ID：202203012165473848
解析装置および解析プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
家入 健
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-087114
公開番号（公開出願番号）：特開2019-192131
特許番号：特許第6996413号
出願日： 2018年04月27日
公開日（公表日）： 2019年10月31日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 塗装表面に突起として現れる塗装欠陥である塗装ブツが発生した発生原因を解析する解析装置であって、 学習対象の塗装面に発生した塗装ブツに対し積層された塗装層の少なくとも表層を削った表面を撮影した学習画像データと、当該塗装ブツを解析することにより推定された入力データとの組合せを教師データとして学習した学習済みニューラルネットワークを記憶した記憶部と、 判定対象の塗装面に発生した塗装ブツに対し積層された塗装層の少なくとも表層を削った表面を撮影した判定画像データを取得する取得部と、 前記取得部が取得した前記判定画像データを前記記憶部から読み出した前記学習済みニューラルネットワークに入力して、前記判定対象の塗装面に発生した塗装ブツの発生原因を判定する判定部と、 前記判定部によって判定された発生原因に関する情報を出力する出力部とを備える解析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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