特許

J-GLOBAL ID：202203014161842183

質量スペクトルデータの取得および解析方法

発明者： ホアン ユンチン ,  スン ウェンジャン ,  チャン シャオチィアン
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：JP2018042171
特許番号：特許第7014293号
出願日： 2018年11月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 質量スペクトルデータの取得および解析方法であって、 a.イオンを生成する少なくとも1つのイオン源を提供し、生成されたイオンは分析される物質のイオンを含むステップと、 b.分析される前記物質のイオンの全質量電荷比範囲をいくつかの質量電荷比窓に分割し、異なる質量電荷比窓に対応するイオンを衝突セルに供給して、対応するイオンの少なくとも一部を断片化し、前記衝突セルを通過する前記イオンの質量スペクトルを対応するプロダクトイオンスペクトルとしてそれぞれ記録するステップと、 c.前記ステップbを数回繰り返すステップと、 d.以下のステップd1からd3: d1.複数のプロダクトイオンスペクトルに対応する1つの質量電荷比窓を取得するステップと、 d2.取得した質量電荷比窓の前記質量電荷比範囲内で、前記複数のプロダクトイオンスペクトルから複数のイオンピークを取得するステップと、 d3.得られた複数のイオンピークに対応するイオンが、前記複数のプロダクトイオンスペクトルに対応する複数のプリカーサイオンであるか否かを判定するステップとによって取得した前記複数のプロダクトイオンスペクトルを検索し、前記複数のプロダクトイオンスペクトルに対応する複数のプリカーサイオンを決定するステップとを含む方法。

IPC (2件)：

G01N 27/62 ( 202 1.01) ,  H01J 49/00 ( 200 6.01)

FI (6件)：

G01N 27/62 D ,  G01N 27/62 X ,  G01N 27/62 C ,  H01J 49/00 310 ,  H01J 49/00 360 ,  H01J 49/00 450