特許
J-GLOBAL ID：202203016720121931
X線CT装置、補正方法及び補正プログラム
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人虎ノ門知的財産事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-001530
公開番号（公開出願番号）：特開2016-123873
特許番号：特許第7002827号
出願日： 2016年01月07日
公開日（公表日）： 2016年07月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 X線源から曝射されたX線を検出する光子計数検出器と、 処理回路と、を備え、 前記処理回路は、前記光子計数検出器の入射スペクトルの計数率、前記光子計数検出器の不感時間値、および、パイルアップ次数のパラメータに基づき、前記光子計数検出器の出力スペクトルに対するパイルアップの寄与率をパイルアップ次数毎に算出して、予め定められた閾値と前記パイルアップ次数毎に算出された寄与率とを比較することにより、閾値未満の寄与率を有する所定のパイルアップ次数を決定し、 閾値未満の寄与率を有する前記所定のパイルアップ次数を決定した後、前記所定のパイルアップ次数を下回る次数の各パイルアップ次数について、検出器応答モデル、パラメータベクトルおよび計算又は基準となる分光検出器を用いた測定によって決定される前記入射スペクトルを使用して成分スペクトルを計算し、 計算された前記成分スペクトルを合計して、シミュレーションで測定された前記出力スペクトルを生成し、シミュレーションで測定された前記出力スペクトルと各入射スペクトルに対応する前記光子計数検出器からの出力である測定された実測スペクトルとの比較に基づいて前記パラメータベクトルを更新して、前記光子計数検出器の検出器パイルアップモデルを決定する、X線CT装置。
IPC (2件)：
A61B 6/03 ( 200 6.01)
, G01T 1/17 ( 200 6.01)
A61B 6/03 350 H
, G01T 1/17 F
, G01T 1/17 H
, G01T 1/17 J
