特許

J-GLOBAL ID：202303018795573099

検出システム

発明者： 山邊 奈緒子 ,  小宮 研一 ,  石川 大介 ,  新井 竜一 ,  小川 雄一 ,  鈴木 哲仁
出願人/特許権者： 東芝テック株式会社
代理人 (1件)： 弁理士法人鈴榮特許綜合事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2023-189391
公開番号（公開出願番号）：特開2023-181535
出願日： 2023年11月06日
公開日（公表日）： 2023年12月21日
要約：

【課題】適切な検出条件を決定する。 【解決手段】演算装置は、繰り返しパターンを有するセンサに標識物で標識した検出対象物を添加し、当該センサに電磁波を照射して当該電磁波の反射率又は透過率の変化によって前記検出対象物を検出する検出装置に関する検出条件を決定する。演算装置は、条件が入力される入力インターフェースと、入力された前記条件に応じて、前記標識物で標識した前記検出対象物の大きさが前記センサにおける前記電磁波による電場の染み出し深さ以下となるように、前記電磁波の周波数と、前記標識物の大きさと、前記パターンの大きさとのうち、少なくとも1つを決定するように構成されたプロセッサとを備える。 【選択図】図1

請求項（抜粋）：

繰り返しパターンを有するセンサに標識物で標識した検出対象物を添加し、当該センサに電磁波を照射して当該電磁波の反射率又は透過率の変化によって前記検出対象物を検出する検出装置に関する検出条件を決定するための演算装置であって、 条件が入力される入力インターフェースと、 入力された前記条件に応じて、前記標識物で標識した前記検出対象物の大きさが前記センサにおける前記電磁波による電場の染み出し深さ以下となるように、前記電磁波の周波数と、前記標識物の大きさと、前記パターンの大きさとのうち、少なくとも1つを決定するように構成されたプロセッサと を備える演算装置。

IPC (1件)：

G01N 21/41

FI (1件)：

G01N21/41 102

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 収容型構造体、測定装置、方法およびプログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-356486   出願人：株式会社アドバンテスト