SnS<sub>2</sub>の高温高圧処理のin-situ X線回折による評価

相川皆子; 田所泰志郎; 横倉聖也; 横倉聖也; 牧紘太郎; 三浦章; 三浦章; 河口沙織; 門林宏和; 岡健太; 島田敏宏; 島田敏宏

文献

J-GLOBAL ID：202402227552616231 整理番号：24A0611062

SnS₂の高温高圧処理のin-situ X線回折による評価

In-situ Xray diffraction during high-temperature and high-pressure treatment of SnS₂

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巻： 84th ページ： ROMBUNNO.19p-P01-60 発行年： 2023年09月05日
JST資料番号： Y0055B ISSN： 2758-4704 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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生物物理的研究法 , 生体の顕微鏡観察法 , 分子構造 , 分析機器

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SnS2の高温高圧処理のin-situ X線回折による評価

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