特許
J-GLOBAL ID:202403020654919260

X線検査装置、エスカレーター検査装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 弁理士法人サンネクスト国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2022-106402
公開番号(公開出願番号):特開2024-005926
出願日: 2022年06月30日
公開日(公表日): 2024年01月17日
要約:
【課題】 視認困難な検査対象物の状態を非破壊で立体的に把握し、劣化を高精度に判定できるX線検査装置を提供する。 【解決手段】 X線画像により、視認困難な検査対象物の状態を非破壊で把握するX線検査装置であって、検査対象物にX線を照射するX線照射部と、X線照射部から照射されたX線を用いて検査対象物のX線画像を取得する複数のX線検出部と、複数のX線検出部から得られた検査対象物のX線画像を解析して構築された検査対象物の立体的構造に基づいて、その状態を判定する解析部と、を有する。X線検出部は、検査対象物を透過したX線量と、検査対象物で散乱したX線量と、の何れかを検知する。検査対象物の周辺に配置されて2次X線発生部を構成する金属体も備え、X線検出部は、照射されたX線が金属体で散乱して生じる2次X線が検査対象物を透過又は反射した量も検知可能である。 【選択図】 図1
請求項(抜粋):
X線画像により、検査対象物の状態を把握するX線検査装置であって、 前記検査対象物にX線を照射する第一のX線照射部と、 前記第一のX線照射部とは異なる方向から前記検査対象物にX線を照射する第二のX線照射部と、 前記第一のX線照射部及び前記第二のX線照射部から照射されたX線を用いて前記検査対象物を透過及び/または前記検査対象物から散乱するX線を検出するX線検出部と、 前記検出部で検出されたX線を用いて、前記検査対象物の状態を判定する状態判定部と、 を備えるX線検査装置。
IPC (3件):
G01N 23/04 ,  G01N 23/20 ,  G01N 23/203
FI (3件):
G01N23/04 ,  G01N23/20 380 ,  G01N23/203
Fターム (10件):
2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001BA14 ,  2G001BA28 ,  2G001BA30 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001LA20
引用特許:
出願人引用 (1件)

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