研課題
J-GLOBAL ID:202404005344742306  研究課題コード:23827210

深層学習を用いた次世代電子線トモグラフィー技術の開発

体系的課題番号:JPMJPR23JD
実施期間:2023 - 2026
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 大学院工学研究院, 助教 )
DOI: https://doi.org/10.52926/JPMJPR23JD
研究概要:
本研究では、4D-STEMによる回折イメージングおよびSTEM-EDX/EELSによる元素・化学状態マッピング、深層学習による画像復元技術を高度に組み合わせることにより、これまでにない正確性で原子配列を3D再構成できる新しいマルチモーダル電子線トモグラフィー技術を開発します。それにより、多結晶性材料中の格子欠陥や表面・界面などの非周期原子配列の3D解析の実現を目指します。
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した研究課題タイトルの用語をもとにしたキーワードです
研究制度:
上位研究課題: 計測・解析プロセス革新のための基盤の構築
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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