顕微分光による二次元物質デバイスの物性開拓

体系的課題番号：JPMJPR24H8
実施期間：2024 - 2027
実施機関 (1件)：
研究代表者： ( , 生産技術研究所, 助教 )
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJPR24H8
研究概要：

本研究では、顕微光学測定を中心としたアプローチから二次元物質やそのvan der Waals積層のナノデバイスの研究を行います。極低温や高磁場を印加した特殊環境において電気伝導測定と顕微分光測定を同時に行うことで、未開拓であった領域における新奇物性や機能性を開拓します。また、van der Waals積層の作製途中に顕微分光などのその場物性評価を行う新しい研究スタイルの構築も目指します。

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研究制度：＞＞
上位研究課題：新原理デバイス創成のためのナノマテリアル
研究所管機関：

国立研究開発法人科学技術振興機構

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