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著者 (4件)：
資料名：
巻： 1991 ページ： 897-905 発行年： 1991年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902000922431371
整理番号：92A0261492
Delay Testing Quality in Timing-Optimized Designs.
PARK E S
(Motorola Inc., Texas)
,
UNDERWOOD B
(Motorola Inc., Texas)
,
WILLIAMS T W
(IBM, Colorado)
,
MERCER M R
(Univ. Texas at Austin, Texas)
資料名：
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻： 1991 ページ： 897-905 発行年： 1991年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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