文献
J-GLOBAL ID:200902006380379945
整理番号:89A0192562
スルーホールおよびバイアス内への銅のめっき
Plating of copper into through-holes and vias.
著者 (3件):
YUNG E K
(IBM Corp., NY, USA)
,
ROMANKIW L T
(IBM Corp., NY, USA)
,
ALKIRE R C
(Univ. Illinois, IL, USA)
資料名:
Journal of the Electrochemical Society
(Journal of the Electrochemical Society)
巻:
136
号:
1
ページ:
206-215
発行年:
1989年01月
JST資料番号:
C0285A
ISSN:
1945-7111
CODEN:
JESOAN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)