文献
J-GLOBAL ID:200902008186397374
整理番号:90A0253895
YBa2Cu3Oxエピタキシャル膜における臨界電流密度の異方性
Anisotropy of the critical current density in epitaxial YBa2Cu3Ox films.
著者 (3件):
ROAS B
(Siemens AG, Erlangen, DEU)
,
SCHULTZ L
(Siemens AG, Erlangen, DEU)
,
SAEMANN-ISCHENKO G
(Univ. Erlangen, Erlangen, DEU)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
64
号:
4
ページ:
479-482
発行年:
1990年01月22日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)