文献
J-GLOBAL ID:200902008330912378
整理番号:93A0380431
不揮発性メモリ用の,Siイオン打込みゲートSiO2絶縁膜を備えたMOSFET
A MOSFET with Si-implanted Gate-SiO2 Insulator for Nonvolatile Memory Applications.
著者 (4件):
HORI T
(Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Osaka, JPN)
,
OHZONE T
(Toyama Prefectural Univ., Toyama, JPN)
,
ODAKE Y
(Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Osaka, JPN)
,
HIRASE J
(Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Osaka, JPN)
資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻:
1992
ページ:
469-472
発行年:
1992年
JST資料番号:
C0829B
ISSN:
0163-1918
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)