文献
J-GLOBAL ID:200902014497027910
整理番号:89A0326714
高電界で生じるフォトエミッションによるポリマ絶縁体の劣化
Degradation of polymeric insulation due to photoemission caused by high electric fields.
著者 (3件):
BAMJI S S
(National Research Council of Canada, Ontario, CAN)
,
BULINSKI A T
(National Research Council of Canada, Ontario, CAN)
,
DENSLEY R J
(National Research Council of Canada, Ontario, CAN)
資料名:
IEEE Transactions on Electrical Insulation
(IEEE Transactions on Electrical Insulation)
巻:
24
号:
1
ページ:
91-98
発行年:
1989年02月
JST資料番号:
C0975A
ISSN:
0018-9367
CODEN:
IETIA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)