文献
J-GLOBAL ID:200902014722952203
整理番号:88A0455580
薄いコンデンサの絶縁破壊に対する確率モデル
A stochastic model for dielectric breakdown in thin capacitors.
著者 (2件):
WILLMING D A
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
,
WU C H
(Univ. Missouri-Rolla, MO, USA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
63
号:
2
ページ:
456-459
発行年:
1988年01月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)