文献
J-GLOBAL ID:200902014966859019
整理番号:88A0369114
磁性薄膜の複素透磁率を測定するための新しい掃引周波数透磁率計
A new swept-frequency permeameter for measuring the complex permeability of thin magnetic films.
著者 (3件):
GRIMES C A
(Univ. Texas at Austin, TX, USA)
,
TROUILLOUD P L
(Univ. Texas at Austin, TX, USA)
,
WALSER R M
(Univ. Texas at Austin, TX, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻:
24
号:
1
ページ:
603-610
発行年:
1988年01月
JST資料番号:
A0339B
ISSN:
0018-9464
CODEN:
IEMGAQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)