文献
J-GLOBAL ID:200902015686942260
整理番号:90A0206393
エピタキシャルCdTe/ZnTeにおける臨界膜厚
Critical thickness in epitaxial CdTe/ZnTe.
著者 (7件):
CIBERT J
(Lab. Spectrometrie Physique, Saint Martin d’Heres, FRA)
,
GOBIL Y
(Lab. Spectrometrie Physique, Saint Martin d’Heres, FRA)
,
DANG L S
(Lab. Spectrometrie Physique, Saint Martin d’Heres, FRA)
,
TATARENKO S
(Lab. Spectrometrie Physique, Saint Martin d’Heres, FRA)
,
FEUILLET G
(Centre d’Etudes Nucleaires de Grenoble, Grenoble, FRA)
,
JOUNEAU P H
(Centre d’Etudes Nucleaires de Grenoble, Grenoble, FRA)
,
SAMINADAYAR K
(Centre d’Etudes Nucleaires de Grenoble, Grenoble, FRA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
56
号:
3
ページ:
292-294
発行年:
1990年01月15日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)