文献
J-GLOBAL ID:200902015894308825
整理番号:83A0199778
けい化物形成初期段階の原子プローブ研究 I W-Si系
Atom-probe study of the early stage of silicide formation. I. W - Si system.
著者 (8件):
NISHIKAWA O
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama)
,
TSUNASHIMA Y
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama)
,
NOMURA E
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama)
,
HORIE S
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama)
,
WADA M
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama)
,
SHIBATA M
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama)
,
YOSHIMURA T
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama)
,
UEMORI R
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
1
号:
1
ページ:
6-9
発行年:
1983年01月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)