文献
J-GLOBAL ID:200902018059724019
整理番号:88A0270402
SOCRATES 高能率自動テストパタン発生システム
SOCRATES: A highly efficient automatic test pattern generation system.
著者 (3件):
SCHULZ M H
(Technical Univ. Munich, Munich, DEU)
,
TRISCHLER E
(Siemens AG, Munich, DEU)
,
SARFERT T M
(Siemens AG, Munich, DEU)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
7
号:
1
ページ:
126-137
発行年:
1988年01月
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)