文献
J-GLOBAL ID:200902018975049670
整理番号:90A0415151
平面投影したSi/SiO2界面の断面透過電子顕微鏡明視野像におけるFresnel縞に及ぼす平均結晶ポテンシャルの影響
Influence of the mean crystal potential on the Fresnel fringes in cross-sectional transmission electron microscopy bright-field images of a flat projecting Si/SiO2 interface.
著者 (3件):
WURZINGER P
(Technische Univ. Wien, Wien, AGT)
,
PONGRATZ P
(Technische Univ. Wien, Wien, AGT)
,
SKALICKY P
(Technische Univ. Wien, Wien, AGT)
資料名:
Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties
(Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties)
巻:
61
号:
1
ページ:
35-43
発行年:
1990年01月
JST資料番号:
E0753B
ISSN:
0141-8610
CODEN:
PMAADG
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)