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資料名：
巻： 61 号： 10 ページ： 4723-4729 発行年： 1987年05月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902020466609156
整理番号：87A0481663
原子間力検知型顕微鏡 試料表面の100Å以下のスケールでの力のマッピングとプロフィル
Atomic force microscope-Force mapping and profiling on a sub 100-Å scale.
MARTIN Y
(IBM, T.J. Watson Research Center, NY, USA)
,
WILLIAMS C C
(IBM, T.J. Watson Research Center, NY, USA)
,
WICKRAMASINGHE H K
(IBM, T.J. Watson Research Center, NY, USA)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 61 号： 10 ページ： 4723-4729 発行年： 1987年05月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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