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資料名：
巻： 55 号： 5 ページ： 439-441 発行年： 1989年07月31日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902022206261981
整理番号：89A0506531
簡単な低ノイズ干渉計を用いた走査型力顕微鏡
Scanning force microscopy using a simple low-noise interferometer.
DEN BOEF A J
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 55 号： 5 ページ： 439-441 発行年： 1989年07月31日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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