文献
J-GLOBAL ID:200902023165823615
整理番号:90A0623293
X線回折によるGa1-xAlxAs/GaAs超格子のキャラクタリゼーション
Characterization of Ga1-xAlxAs/GaAs superlattices by X-ray diffraction.
著者 (1件):
BRUEHL H-G
(Karl-Marx-Univ. Leipzig, DDR)
資料名:
Crystal Growth and Characterization of Advanced Materials
(Crystal Growth and Characterization of Advanced Materials)
ページ:
376-384
発行年:
1988年
JST資料番号:
K19900583
ISBN:
9971-50-730-7
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
シンガポール (SGP)
言語:
英語 (EN)