文献
J-GLOBAL ID:200902026480798377
整理番号:92A0679789
MOSアナログ回路の現実の最悪事態の設計最適化に対する集積化アプローチ
An Integrated Approach to Realistic Worst-Case Design Optimization of MOS Analog Circuits.
著者 (2件):
DHARCHOUDHURY A
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL)
,
KANG S M
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL)
資料名:
Proceedings of the Design Automation Conference
(Proceedings of the Design Automation Conference)
巻:
29th
ページ:
704-709
発行年:
1992年
JST資料番号:
D0553A
ISSN:
0738-100X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)