文献
J-GLOBAL ID:200902026510924518
整理番号:88A0544938
原子間力顕微鏡法への新しい光学的研究法
Novel optical approach to atomic force microscopy.
著者 (2件):
MEYER G
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY, USA)
,
AMER N M
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
53
号:
12
ページ:
1045-1047
発行年:
1988年09月19日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)