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著者 (2件)：
資料名：
巻： 8 号： 4 ページ： 235-245 発行年： 1989年12月
JST資料番号： B0912B ISSN： 0195-9298 CODEN： JNOED5 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902026946473821
整理番号：90A0662508
多層薄膜構造の非破壊的低サイクル疲れ特性評価
Nondestructive low-cycle fatigue characterization of multi-layer thin film structures.
OSHIDA Y
(Syracuse Univ., New York)
,
CHEN P C
(IBM Co., New York)
資料名：
Journal of Nondestructive Evaluation
(Journal of Nondestructive Evaluation)
巻： 8 号： 4 ページ： 235-245 発行年： 1989年12月
JST資料番号： B0912B ISSN： 0195-9298 CODEN： JNOED5 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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