文献
J-GLOBAL ID:200902031624842205
整理番号:87A0256838
シリコン結晶における相対論的電子からのパラメトリックX線の測定
Measurements of parametric X-rays from relativistic electrons in silicon crystals.
著者 (8件):
ADISHCHEV Y N
(Tomsk Polytechnical Inst., Tomsk, SUN)
,
DIDENKO A N
(Tomsk Polytechnical Inst., Tomsk, SUN)
,
MUN V V
(Tomsk Polytechnical Inst., Tomsk, SUN)
,
PLESHKOV G A
(Tomsk Polytechnical Inst., Tomsk, SUN)
,
POTYLITSIN A P
(Tomsk Polytechnical Inst., Tomsk, SUN)
,
TOMCHAKOV V K
(Tomsk Polytechnical Inst., Tomsk, SUN)
,
UGLOV S R
(Tomsk Polytechnical Inst., Tomsk, SUN)
,
VOROBIEV S A
(Tomsk Polytechnical Inst., Tomsk, SUN)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
21
号:
1
ページ:
49-55
発行年:
1987年03月
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)